測(cè)碳合金分析儀（Z-300）
概況LIBS是Laser-Induced Breakdown Spectroscopy （激光誘導(dǎo)擊穿光譜學(xué)）的簡(jiǎn)稱，通過(guò)脈沖激光聚焦樣品表面形成等離子體，利用光譜儀對(duì)等離子體發(fā)射光譜進(jìn)行分析，以此來(lái)識(shí)別樣品中的元素組成成分，進(jìn)而可以進(jìn)行材料的識(shí)別、分類、定性以及定量分析。
測(cè)碳合金分析儀（Z-300）
1. 無(wú)X射線輻射，不需申請(qǐng)輻射儀器使用許可證，不需要每年定期聘請(qǐng)第三方環(huán)評(píng)公司出具輻射儀器環(huán)評(píng)報(bào)告；使用人員可以放心操作，不用擔(dān)心輻射累積導(dǎo)致的身體不可逆轉(zhuǎn)的損壞。
2. 識(shí)別合金的牌號(hào)，鋁合金需1-2秒；
3. 一鍵式設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)單；
4. 能測(cè)定C,H,Li,Be,B等輕元素，用戶根據(jù)需要選擇合適的分析曲線和配置；
5. 高清拍攝，配合激光束，可進(jìn)行微區(qū)分析；6. Android智能操作系統(tǒng)，可加載APP應(yīng)用軟件
7. 配置兩節(jié)可充電鋰電池，單節(jié)電池至少可連續(xù)測(cè)試6個(gè)小時(shí)；
8. 可生成報(bào)告，一鍵共享測(cè)試結(jié)果；
9. 藍(lán)寶石測(cè)試窗，有效避免窗口膜損壞
10. 維護(hù)成本低，沒(méi)有類似XRF探測(cè)器的昂貴易損件
| 型號(hào) | Z -300 |
| 重量 | 1.82kg帶電池 |
| 尺寸 | 21*30*12（cm) |
| 激發(fā)源 | 5-6 mj/脈沖，50赫茲重復(fù)頻率，1064 nm激光源 |
| 光譜/范圍 | 多CCD光譜儀:190 nm - 950 nm。 |
| 可用的應(yīng)用程序 | Alloy Mode / Empirical mode/ Profile Builder/ Element Pro Mode |
| 氬氣凈化功能 | 氬氣有凈化功能，操作的用戶可更換氬氣瓶。 |
| 分析范圍 | 全元素分析 |
| 激光光柵 | 將激光對(duì)準(zhǔn)需檢測(cè)位置進(jìn)行定向分析。光柵圖形16 x 16網(wǎng)格，256個(gè)位置。 |
| 電子信號(hào)處理 | ARM Cortex-A9雙核/1.2 GHz內(nèi)存：1 GB DDR2內(nèi)存，1 GB內(nèi)存 |
| 自動(dòng)對(duì)焦 | 計(jì)算機(jī)控制手動(dòng)或自動(dòng)調(diào)整激光聚焦樣本位置 |
| 供電 | 可充電鋰電池，交流電源。 |
| 顯示 | 5"彩色觸摸屏智能手ji顯示屏-PowerVR SGX540 3D圖形 |